CETMIC - CENTRO DE TECNOLOGIA DE RECURSOS MINERALES Y CERAMICA

Título
Difracción de rayos x: Cuantificación de fases cristalinas presentes por el método de Rietveld (ST 667)
Detalle STAN
Análisis por difracción de rayos x de muestra policristalina en polvo o pieza
Disciplina Primaria
Física
Disciplina Desagregada
FISICA-DEL ESTADO SOLIDO