INFAP - INSTITUTO DE FISICA APLICADA "DR. JORGE ANDRES ZGRABLICH"

Título
Análisis químico superficial mediante espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) (ST 2929)
Detalle STAN
Determinaciones químicas de superficies mediante espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) con un equipo ESCA VG Microtech con analizador de energía modelo VG100AX y fuente de rayos X de 300w de dos ánodos (Al y Mg).
Disciplina Primaria
Física
Disciplina Desagregada
QUIMICA-FISICA