IITCI - INSTITUTO DE INVESTIGACION EN TECNOLOGIAS Y CIENCIAS DE LA INGENIERIA

Palabras Claves: EDS-EDS Topografía composición quimica Fractografía
Título
Microscopia electrónica de barrido: SEM/ EDS (ST 6016)
Detalle STAN
Análisis semi-cuantitativo. Puntual y superficial. Mapping de rayos X de hasta cuatro elementos en simultaneo. Análisis Morfológico de superficies y de topografía de una muestra, con visualizaciones de hasta 5000 X.
Disciplina Primaria
Ingenieria y Tecnologia de Materiales
Disciplina Desagregada
INGENIERIA-MECANICA