Elipsometría de películas delgadas: a) Modelado de un depósito multicapa para elipsometría b) Determinación de espesores e índices de refracción multicapa por elipsometría (ST 6913)

Se realiza el ajuste de un modelo y/o medición para la determinación de espesores e índices de refracción por medio de elipsometría de longitud de onda variable.

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-DE MATERIALES