Análisis morfológico superficial de materiales por Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) (ST 6882)

Se realizan mediciones morfológicas por Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) para conocer las características superficiales de muestras secas, incluyendo polímeros, metales, cerámicos, entre otros. Resolución máxima de aproximadamente 30 nm. Destinatarios: industria metalmecánica, industria plástica, del caucho, textil, y de la madera, entre otras; e Investigación y desarrollo.

Desarrollo tecnológico y social proyectos complejos

INGENIERIA-DE MATERIALES