UE-INN - UNIDAD EJECUTORA INSTITUTO DE NANOCIENCIA Y NANOTECNOLOGIA

Palabras Claves: CRISTALINIDAD DIFRACCION POLVOS PELÍCULAS DELGADAS MONOLITOS Y PIEZAS
Título
Mediciones de difracción de rayos X de polvos, películas delgadas, monolitos y piezas de diversas geometrías (ST 6881)
Detalle STAN
Mediciones de difracción de rayos X de polvos, películas delgadas, monolitos y piezas de diversas geometrías. Tubo de Cu, detector proporcional, monocromador, filtro de Ni (opcional), diversas rendijas y máscaras para delimitar el área iluminada. El servicio está dirigido a empresas, organismos públicos de CyT o instituciones académicas que lo requieran.
Disciplina Primaria
Ingenieria y Tecnologia de Materiales
Disciplina Desagregada
CIENCIAS EXACTAS Y NATURALES