UE-INN - UNIDAD EJECUTORA INSTITUTO DE NANOCIENCIA Y NANOTECNOLOGIA

Palabras Claves: Circuitos integrados Semiconductores Caracterización
Título
Verificación de circuitos integrados (ST 6846)
Detalle STAN
El servicio tiene como objetivo realizar análisis de fallos de circuitos integrados fabricados en tecnologías CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o dispositivos semiconductores, utilizando resultados de caracterizaciones eléctricas y toda información posible provista por el demandante, complementando resultados de mediciones con simulaciones. El servicio está orientado a la industria electrónica, microelectrónica y semiconductores, entes gubernamentales o universidades interesadas.
Disciplina Primaria
Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas
Disciplina Desagregada
INGENIERIA-ELECTRONICA