UE-INN - UNIDAD EJECUTORA INSTITUTO DE NANOCIENCIA Y NANOTECNOLOGIA

Palabras Claves: Circuitos integrados Semiconductores Caracterización
Título
Caracterización ante radiación ionizante de dispositivos y circuitos integrados CMOS (ST 6844)
Detalle STAN
El servicio tiene como objetivo caracterizar ante radiación ionizante ya sea por dosis total, efectos únicos o daño por desplazamiento de dispositivos semiconductores, circuitos integrados o circuitos electrónicos CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o Bipolar-CMOS. El servicio está orientado a la industria electrónica, microelectrónica y semiconductores, entes gubernamentales o universidades interesadas.
Disciplina Primaria
Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas
Disciplina Desagregada
INGENIERIA-ELECTRONICA