INFAP - INSTITUTO DE FISICA APLICADA "DR. JORGE ANDRES ZGRABLICH"
Título
Análisis quÃmico superficial mediante espectroscopÃa fotoelectrónica de rayos X (XPS) (ST 2929)
Detalle STAN
Determinaciones quÃmicas de superficies mediante espectroscopÃa fotoelectrónica de rayos X (XPS) con un equipo ESCA VG Microtech con analizador de energÃa modelo VG100AX y fuente de rayos X de 300w de dos ánodos (Al y Mg).
Disciplina Primaria
FÃsica
Disciplina Desagregada
QUIMICA-FISICA