Título
Servicios de microscopía electrónica de barrido con FE-SEM (ST 1568)
Detalle STAN
Microscopía de alta resolución, con detectores de electrones retrodifundidos, secundarios in lens y convencional, que permite relevar simultáneamente información topográfica y de contraste químico. La óptica se basa en lentes con bajas aberraciones esférica y cromática y en una lente objetivo cónica de gran ángulo que permite inclinaciones importantes de la muestra con pequeñas distancias de trabajo. Esta lente objetivo permite obtener imágenes de alta resolución aun en muestras magnéticas
Disciplina Primaria
Física
Disciplina Desagregada
FISICA-ATOMICA Y MOLECULAR