IFLP - INSTITUTO DE FISICA LA PLATA

Título
Microscopía de fuerza atómica (ST 1509)
Detalle STAN
Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM). Caracterización topográfica de superficies (AFM).
Disciplina Primaria
Física
Disciplina Desagregada
FISICA-MATERIA CONDENSADA