Título:
Dispositivo para medición de absorción óptica en muestras (TCPind0241-01)
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Descripción de la tecnología
La presente tecnología se refiere a un dispositivo para medición de absorción de radiación óptica. En el mismo, se emplea un haz modulado en forma periódica, por ejemplo un láser, que incide sobre la muestra a caracterizar, generando una fuente localizada de calor que provoca un aumento de temperatura. El índice de refracción del material de la muestra se modifica con la temperatura, lo que produce una lente térmica que desenfoca un segundo haz. A través de la medición de este desenfoque el dispositivo caracteriza la magnitud del calor absorbido y con ello la absorción de la muestra.
Aplicaciones
  • Detección de trazas de contaminantes en agua y en gases
  • Caracterización de materiales utilizados en la fabricación de espejos para láseres de alta potencia
Ventajas
  • Permite medir absorción en muestras de baja concentración o de baja absorción
  • Permite realizar mediciones de absorción lejos de la muestra a caracterizar
  • No requiere calibración en cada medición
Estado de la patente
Fecha de prioridad: 30/01/2015. Número de solicitud prioritaria: 20150100270.
Estado del desarrollo
Existen prototipos funcionales del dispositivo.
Investigador referente
Dr. Oscar Martínez